关键词:COD BOD 多参数  测油仪

产品中心

产品中心
粒度仪
  • WJL-602型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论1、测量范围:0.1~600微米2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50)重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50)电气要求:交流220±10V,50Hz,200W外观尺寸:1000×330×320mm重量:38KG3、光源:采用He-Ne激光气体光源,波长0.6328微米,使用寿命大

  • WJL-608型激光粒度仪

    暂无价格

    分析仪采用全量程米氏散射理论。1、测量范围:0.02~1200微米2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50)重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50)电气要求:交流220±10V,50Hz,200W外观尺寸:1000×330×320mm重量:38KG3、光源:采用He-Ne激光气体光源,波长0.6328微米,

  • WJL-606型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。1、测量范围:0.05~800微米2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50)重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50)电气要

  • WJL-616型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分

  • WJL-622型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分

  • WJL-628型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分

  • WJL-626型激光粒度仪

    暂无价格

    采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分

  • WJL-612型激光粒度仪

    暂无价格

    硬件设计先进,按照Q/01RZ01-2004标准生产,元器件专业制造,性能稳定可靠,无易损配件。技术特点:测试稳定的基础:只有系统能够提供稳定的光信号,才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2012型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源,波长0.6328微米,波长短,线宽窄

  • WKL-722粉尘形貌分散度测试仪

    暂无价格

    WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和力度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜,数字CCD摄像机和粉尘分散度分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的粉尘图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的粉

  • WKL-702颗粒图像分析仪

    暂无价格

    WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和力度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜,数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的珠子摄像机将显微镜的颗粒图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的

  • WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪

    暂无价格

    WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品管后,会引起压力下降,由此计算吸附平衡时

共有1页首页上一页1下一页尾页
×